会员价 全自动膜厚测量仪JY-FILMTHICK-CT18 2026040301
一键测试输出自动定位对样品进行非接触式无损、高精度多点位测量
价格 ￥208888.00
产品型号 JY-FILMTHICK-CT18
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- 膜厚检测范围 1μm-250μm
- 测量精度 0.2%
- 光斑大小 直径3mm
- 最大样品尺寸 1200x700mm
- 单次测试时间 优于1秒
- 膜厚测量方式 单点自动定位检测
- 测试点位数量 最多可设定200个测试点位
- 移动轴向 XY轴移动
- 可测量参数 反射率、膜厚、颜色
- 报告数据 可输出样品不同区域测试数据文件
- 自动判断 可自定义测试判断条件，自动判断OK或者NG
- 定位精度 0.05mm
- 显示 内嵌工业级平板电脑
- 选配定制功能 透光率、折射率等
- 质保 一年（人为损坏和耗材除外）
产品说明
景颐光电全自动膜厚测量仪JY-FILMTHICK-CT18利用光干涉原理，设计高稳定测试大平台，桥驾式探测头结构，XY轴超大行程，可测量1.2x0.7m的大尺寸样品，一键测试输出自动定位对样品进行非接触式无损、高精度多点位测量，可应用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等薄膜层的厚度测量。OPTICAFILMTEST 光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，可设置数百个测试点位，测量样品反射率、颜色、膜厚等参数，还包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT 波谱和膜厚等趋势。
产品特点
采用高强度氘钨灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围
基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析膜层厚度
配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息
一键输出自动定位多点位测试
应用领域
高精密膜厚测量案例
半导体：硅半导体、碳化硅半导体、砷化镓半导体、光刻胶、氧化物/氮化物工艺薄膜、介电材料、硅或其他半导体膜层
液晶显示：OLED、玻璃厚度、聚酰亚胺、ITO与其他TCO
光学镀层：HC硬涂层、AR抗反射层、AG防眩光涂层、滤光片眼镜
生物医学：Parylene派瑞林、聚合物、生物膜、医疗设备
薄膜：AR膜、HC膜、PET膜
行业案例
合作客户
