膜厚测量仪FILMTHICK-C40 显微系列
产品说明
景颐光电膜厚测量仪 FILMTHICK-C40运用光干涉原理，内置机械结构集成的进口卤钨灯光源，寿命超 10000 小时。它可对样品非接触、无损、高精度测量，精准获取反射率、颜色、膜厚等参数，适用于半导体、液晶显示、光学镀膜、生物医学等多领域薄膜测量。搭配的 OPTICAFILMTEST 软件含 FFT傅里叶法等多种高精度算法与丰富材料折射率数据库，测量时能实时呈现干涉、波谱、膜厚趋势，助力测试分析,精密光谱测量系统数秒出结果；遇微小区域或光斑需至1微米的测量要求，它表现出色。用足部校正显微镜物镜测量，结合 CCD 摄像头，用户通过电脑屏幕就能精准取值、清晰看样。
产品特点
采用高强度氘钨灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围
基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析膜层厚度
配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息
应用领域
高精密膜厚测量案例
半导体：硅半导体、碳化硅半导体、砷化镓半导体、光刻胶、氧化物/氮化物工艺薄膜、介电材料、硅或其他半导体膜层
液晶显示：OLED、玻璃厚度、聚酰亚胺、ITO与其他TCO
光学镀层：HC硬涂层、AR抗反射层、AG防眩光涂层、滤光片眼镜
生物医学：Parylene派瑞林、聚合物、生物膜、医疗设备
薄膜：AR膜、HC膜、PET膜
行业案例
合作客户
- 光斑大小 标准1.5mm（可选配至10um）
- 样品尺寸 标准300mm（可选配）
- 测试时间 优于0.1秒
- 光源寿命 10000小时
- 质保 一年（人为损坏和耗材除外）
产品编号
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